Die Serie 5200 ist das schnellste analoge Testsystem. Es kombiniert hohe Geschwindigkeit mit der Fähigkeit eine breite Palette von Bauteiltypen genau zu testen und verwischt so die Grenze zwischen MDA oder analogem In-Circuit und voll digitalem In-Circuit. Diese Eigenschaft minimiert die Investition in Testsysteme, indem sie die Anzahl der Plattformen reduziert, die zum Erreichen des Durchsatzes erforderlich sind und liefern das höchste Level an Testumfang innerhalb einer einzigen Fertigungsstufe.

– Prüfgeschwindigkeit bis zu 1200 Bauteile/Sek.
– Maximal 2112 Pins
– Einschaltprüfung mit programmierbarer Versorgungsoption
– Software zur automatischen Programmerstellung
– Grafische Programm-Debug-Fähigkeit
– Autodebug-Funktion
– Optionale Funktionstestfunktion
– Induktiver und kapazitiver vektorloser Test
– 19-in-Rack einbaubar

Das System wird von einem Standard PC mit einem Windows 2000™-Betriebssystem gesteuert. Die Serie 5200 hat eine kleine Stellfläche, die eine einfache Integration in automatisierte Inline-Fertigungsanlagen ermöglicht.

Innerhalb der Reihe gibt es zwei Systeme, das 5210 mit festen Stromversorgungen für Prüflinge (UUT) und das 5220 mit programmierbaren Versionen.

Systemarchitektur
Der Tester der Serie 5200 ist in einem 19er-Rack untergebracht und enthält elf Steckplätze für Testpoint-Karten sowie drei weitere Steckplätze für eine Reihe von Funktionsressourcen. Jede Testpunktkarte verfügt über 192 Pins, die über Verbindungskabel mit der Prüfvorrichtung verbunden sind. Auf diese Weise kann der Benutzer das System in einen Inline-Handler integrieren oder eine Reihe von Vorrichtungen manuell verwenden.

Verbesserte Testtechniken
Testtechniken wie analoge In-Circuit-, Boundary Scan- und Funktionstests gewährleisten ein Höchstmaß an Fehlerabdeckung. Obwohl ein Manufacturing Defects Analyzer keine digitalen Bauteilprüfung durch einen Testpunktspeicher bietet, verfügt die Serie 5200 über eine digitale Möglichkeit durch Boundary Scan und vektorlose Tools.

Vektorlose Testmöglichkeiten
Aeroflex Limited bietet als einziges Unternehmen sowohl induktive als auch kapazitive vektorlose Techniken an, die eine breite Testabdeckung für eine Reihe von Komponenten von komplexen ASICs bis hin zu Steckverbindern gewährleisten. Induktive Tests werden mit der von Aeroflex patentierten Q-Test II-Technik durchgeführt, während für kapazitive Tests der Industriestandard HP TestJet™-Tastkopf verwendet wird. Diese beiden Techniken tragen dazu bei, dass das System in der Lage ist, Tests für komplexe Geräte schnell zu erstellen und Fehler genau zu diagnostizieren, um Produktivität und Qualität zu verbessern.