ATE-Systeme
MESTEC Werkskalibrierung auf Herstellerniveau gewährleisten, dass ihre Messmittel zu jederzeit mit der höchstmöglichen Präzision arbeiten.
– Maximal 2048 Prüfstift
– Software zur automatischen Programmerstellung
– Grafische Programm-Debug-Fähigkeit
– Autodebug-Einrichtung
– Induktiver und kapazitiver vektorloser Test
– Kondensator-Polarität
– ISP- und FLASH-Programmierung
Die Serie 4200 ist das Flaggschiff der Aeroflex-Produktpalette an automatischen Testsystemen. Sie wurde als das schnellste Fertigungsprüfsystem auf dem Markt entwickelt und eignet sich ideal für hochvolumige Fertigungsprozesse, bei denen der Durchsatz von größter Bedeutung ist. Mit einem etablierten Kundenstamm testet das System eine Vielzahl von Leiterplatten für Anwendungen wie Telekommunikation, Automobil und Unterhaltungselektronik, um nur einige zu nennen.
Durch die höchste Fehlererkennung und die Prüfung von Produkten in kürzester Zeit, reduziert die Serie 4200 die Investitionskosten, als einzige Prüfstation innerhalb der Taktrate der Produktionslinie. Ganz einfach: Ein einziges Prüfgerät der Serie 4200 kann die Aufgaben erfüllen, für die mehrere Systeme der Konkurrenz erforderlich wären.
Systemarchitektur
Die 4200er Serie wird von einem Standard-PC mit Windows-Betriebssystem gesteuert. Die Benutzeroberfläche des Systems wurde anwenderfreundlich gestaltet und ermöglich somit die schnelle Einarbeitung neuer Benutzer.
Innerhalb der Reihe gibt es drei Systeme, den 4215, 4220 und den 4250.
Die Unterschiede liegen in der Anzahl der Testpunkt und in der Netzteilkapazität:
– 4215 – Maximal 1152 universelle Testpunkte und drei Netzteile
– 4220 – Maximal 2048 universelle Testpunkte und sechs Netzteile
– 4250 – Kleine Grundfläche und aktualisierte Version des 4220
Alle Systeme verwenden eine Cardcage-Architektur und können mit einer Reihe von Karten aus der folgenden Liste ausgestattet werden, für die geeignete Konfiguration:
– FA13 Analog In-Circuit Karte (44830/169)
– FA03 Universal In-Circuit Karte (44830/380)
– FA23 Non-Multiplexed Universal In-Circuit Karte (44830/166)
– FA18 General Purpose Input/Output Karte (44830/166)
– FA05 Instrument Access Karte (44828/875)
– FA08 Analog Functional Karte (44830/164)
Bereits enthaltene Karten:
– FA01 Master Test Controller Board (44829/871)
– FA02 Measurement & Interface Board (44829/872)
– FA06 Calibration Standards Board (44829-876)
– Prüfgeschwindigkeit bis zu 1200 Bauteile/Sek.
– Maximal 2112 Pins
– Einschaltprüfung mit programmierbarer Versorgungsoption
– Software zur automatischen Programmerstellung
– Grafische Programm-Debug-Fähigkeit
– Autodebug-Funktion
– Optionale Funktionstestfunktion
– Induktiver und kapazitiver vektorloser Test
– 19-in-Rack einbaubar
Die Serie 5200 ist das schnellste analoge Testsystem. Es kombiniert hohe Geschwindigkeit mit der Fähigkeit eine breite Palette von Bauteiltypen genau zu testen und verwischt so die Grenze zwischen MDA oder analogem In-Circuit und voll digitalem In-Circuit. Diese Eigenschaft minimiert die Investition in Testsysteme, indem sie die Anzahl der Plattformen reduziert, die zum Erreichen des Durchsatzes erforderlich sind und liefern das höchste Level an Testumfang innerhalb einer einzigen Fertigungsstufe.
Das System wird von einem Standard PC mit einem Windows 2000™-Betriebssystem gesteuert. Die Serie 5200 hat eine kleine Stellfläche, die eine einfache Integration in automatisierte Inline-Fertigungsanlagen ermöglicht.
Innerhalb der Reihe gibt es zwei Systeme, das 5210 mit festen Stromversorgungen für Prüflinge (UUT) und das 5220 mit programmierbaren Versionen.
Systemarchitektur
Der Tester der Serie 5200 ist in einem 19er-Rack untergebracht und enthält elf Steckplätze für Testpoint-Karten sowie drei weitere Steckplätze für eine Reihe von Funktionsressourcen. Jede Testpunktkarte verfügt über 192 Pins, die über Verbindungskabel mit der Prüfvorrichtung verbunden sind. Auf diese Weise kann der Benutzer das System in einen Inline-Handler integrieren oder eine Reihe von Vorrichtungen manuell verwenden.
Verbesserte Testtechniken
Testtechniken wie analoge In-Circuit-, Boundary Scan- und Funktionstests gewährleisten ein Höchstmaß an Fehlerabdeckung. Obwohl ein Manufacturing Defects Analyzer keine digitalen Bauteilprüfung durch einen Testpunktspeicher bietet, verfügt die Serie 5200 über eine digitale Möglichkeit durch Boundary Scan und vektorlose Tools.
Vektorlose Testmöglichkeiten
Aeroflex Limited bietet als einziges Unternehmen sowohl induktive als auch kapazitive vektorlose Techniken an, die eine breite Testabdeckung für eine Reihe von Komponenten von komplexen ASICs bis hin zu Steckverbindern gewährleisten. Induktive Tests werden mit der von Aeroflex patentierten Q-Test II-Technik durchgeführt, während für kapazitive Tests der Industriestandard HP TestJet™-Tastkopf verwendet wird. Diese beiden Techniken tragen dazu bei, dass das System in der Lage ist, Tests für komplexe Geräte schnell zu erstellen und Fehler genau zu diagnostizieren, um Produktivität und Qualität zu verbessern.
Das multifunktionale Testsystem kombiniert In-Circuit Test mit Analog- und Digitalfunktionstest. Der Anwender kann zusätzlich noch PXI- Instrumente in das 5800 System einsetzen und diese nahtlos mit der AIDE-Testumgebung steuern. Die 5800 Serie ist in drei Gehäusevarianten verfügbar, als Tischgerät (5820), Einbauversion (5830) und als kompaktes Standgerät (5860) mit mehreren Industriestandard-Schnittstellen.
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